Vous êtes ici Ecole Doctorale Sciences Ecole Doctorale Thématique MAIN Agenda FUNDP: IBAF 2010 - 3 ième Rencontre "Ion Beam Analysis Francophone"

Outils

A venir...

Aucun événement

Offres d'emplois

Aucune offre d'emploi

Administration

FUNDP: IBAF 2010 - 3 ième Rencontre "Ion Beam Analysis Francophone"

Du Lundi 15 Novembre 2010 à 13h00 au Jeudi 18 Novembre 2010 à 12h30

IBAF 2010 - 3e Rencontre "Ion Beam Analysis Francophone"
15 au 18 novembre 2010 - - LARN-FUNDP, Namur (Belgique)

DERNIERS JOURS POUR S'INSCRIRE ET BENEFICIER DES TARIFS REDUITS
(Majoration de 50 € après le 1er novembre)

PROGRAMME SCIENTIFIQUE DISPONIBLE EN LIGNE : cliquez ici pour télécharger les programmes des conférences orales et posters

 

Désormais organisée tous les deux ans, l'objectif de cette rencontre est de réunir la communauté scientifique principalement francophone spécialisée dans l'analyse par faisceaux d'ions rapides (Rétrodiffusion Rutherford, recul élastique, canalisation d'ions, analyse par réactions nucléaires, PIXE,...). Il doit aussi permettre de faire le point sur les récents développements instrumentaux et sur les programmes de simulation. Cette année, un thème plus spécifique sera consacré à l'analyse des éléments légers. Pendant 3 jours (du lundi midi au jeudi midi), des conférences orales, une session posters, des ateliers et une excursion seront proposées.
Une présence industrielle est également organisée www.vide.org/ibaf2010/inscription/presence-industrielle.html
 

Thèmes scientifiques

  • Développements instrumentaux, méthodologies 
  • Simulations et modèles physiques
  • Analyse des éléments légers
  • Matériaux pour le nucléaire 
  • Applications aux systèmes biologiques
  • Applications en science des matériaux et nanosciences
  • Propriétés des surfaces, des interfaces et de nano-objets
  • Objets du patrimoine
  • Science de la Terre et de l'environnement

Chaque session débutera par un exposé général donné par un chercheur invité et de renommée internationale :  

  • Christophe MOREAU (CEA Saclay) : Technique d'analyse par spectrométrie de masse par accélérateur : datation carbone 14
  • Richard ORTEGA (Université de Bordeaux) : Application des techniques d'analyse par faisceau d'ions pour l'imagerie chimique cellulaire
  • Guy ROSS (INRS, Québec, Canada) : Mesure quantitative du profil en profondeur des isotopes de l'hydrogène et de l'hélium dans la matière
  • François SCHIETTEKATTE (Université de Montréal, Québec, Canada) : Les multiples effets des collisions multiples
  • Patrick TROCELLIER (CEA Saclay) : Comportement sous irradiation des matériaux nucléaires et analyse par faisceaux d'ions en ligne
  • André VANTOMME (KUL, Louvain, Belgique) : On-line IBA analysis by artificial neural networks
  • Alessandro ZUCCHIATTI (CMAM, Madrid, Espagne) : L'irradiation par faisceaux d'ions des objets du patrimoine : quels sont les effets et les implications ?

Inscrivez-vous en ligne dès maintenant (en cliquant sur ce lien)

Pensez également à réserver rapidement votre hébergement. Liste d'hôtels disponible sur notre site.

Le Comité d'Organisation IBAF 2010.

 

organisée par la Société Française du Vide, en partenariat avec Belvac et l'Université de Namur - SFV - 19 rue du Renard - 75004 Paris (F)Dernière mise à jour par EDT MAIN Lundi 25 Octobre 2010